產品具体详情
简单介绍：
该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
详情介绍：
测量半导电电阻率时： 电阻率10-4--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm
测量其他（17C.COM一起草入口）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ
二、 号码直流电压表： 1． 分度值 2 mV、20 mV、200 mV、2V 2． 估测数据误差 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字) 3． 展现4 1/2 数字字展现0—19999存在正负和过载保护智能展现，小数点、部门智能展现。 三、 恒流源： 1． 瞬时电流模拟输出：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA． 2. 直流电确定误差：±(0.5%读数+2字)
